ENG
 Санкт-Петербург, ул. Ворошилова, 2   +7 (812) 326-10-56analitika@nnz.ru
Модуль Wide Scan AFM для платформ Anton Paar TriTec

Атомно-силовой микроскоп Wide Scan AFM

Краткое описание

Атомно-силовой микроскоп WideScanAFM устанавливается на платформы Anton Paar TriTec и является идеальным компонентом системы для получения 3D изображений и топографического анализа поверхности после нано/микро индентирования и нано/микро скретч тестов, нанотрибологических исследований.
• Максимальная область сканирования: 110 x 110 мкм
• Максимальная высота по Z-диапазону : 22 мкм
• Разрешение по Z : 0.34 нм
• Разрешение по X и Y : 1.7 нм

 Заказать \ задать вопрос
Категория: Физика поверхности, Каталог, Визуализация
Теги:

Модуль Wide Scan AFM на балке Платформы с Видеомикроскопом

Модуль Wide Scan AFM на балке Платформы с Видеомикроскопом

 

Атомно силовой микроскоп WideScanAFM имеет следующий характеристики:

  • Более высокое разрешение, чем у оптического микроскопа для анализа остаточной глубины проникновения при индентировании или скретч тесте.
  • Изображения AFM можно получить сразу после экспериментов по наноиндентированию
  • Измерение объема отпечатка после индентирования, глубины, и реальной площади контакта
  • Проверка результатов индентирования путем сравнения шероховатости образца и геометрии отпечатка
  • Определение эффектов вспучивания и прогиба поверхности при индентировании
  • Возможность, поиска и визуализации определенной области на поверхности образца до и после наноиндентирования

Нано-скретч тестер и Wide Scan AFM на компактной платформе

Нано-скретч тестер и Wide Scan AFM на компактной платформе

 

Две видеокамеры высокого разрешения интегрированные в AFM

В Модуль AFM интегрирована двойная видеокамера (для визуализации кантилевера сверху и сбоку), что дает возможность непрерывно наблюдать подход и/или сканирование поверхности зондом AFM. Освещение образца происходит светодиодом белого света (регулирование яркости от 0 до 100%).

Это визуализация в программном обеспечении позволяет очень легко провести подвод зонда к поверхности образца и непрерывно наблюдать перемещающийся кантилевер во время сканирования, т.е. во время съемки изображения AFM.

(a)                                                               (b)

Две встроенных в AFM видеокамеры      Две встроенных в AFM видеокамеры

 

 

 

 

 

Две встроенных в AFM видеокамеры, реализующие
(а) Вид сверху и (b) Вид сбоку на кантилевер и поверхность образца

 

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ:

Модуль Wide scan AFM

Модуль Wide Scan Диапазоны
Максимальная область сканирования (a,c) 110 x 110 мкм
Максимальная высота по Z-диапазону (a) 22 мкм
Разрешение по Z (b) 0.34 нм
Разрешение по X и Y (b) 1.7 нм
Средняя линейная ошибка по XY < 0.6 %
Уровень шума по Z (RMS) в основном режиме 0.4 нм (макс 0.55 нм)
Уровень шума по Z (RMS) в динамическом режиме 0.3 nm (макс 0.55 нм)
Настройка кантилевера автоматическая

(a) Допуски при производстве сканирующих модулей: ±10%
(b) Рассчитано путем деления максимального диапазона на 16 бит
(c) Максимальный диапазон сканирования при вращении на 45°

 

Описание Диапазоны
Диапазон динамических частот 15 — 300 кГц с разрешением < 0.1 Гц
Фазовый контраст ± 90°с разрешением < 0.05 °
Фазовый угол 0 — 360 °

ТЕХНИЧЕСКОЕ ОПИСАНИЕ:

По этой ссылке Вы можете загрузить техническое описание на модуль Wide Scan AFM — скачать в формате PDF

 

ДОПОЛНИТЕЛЬНЫЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ МОДУЛИ Anton Paar TriTec для Открытой или Компактной платформ:

Видеомикроскоп высокого разрешения с увеличением до 4000х (стандартная опция).
Модуль УльтраНаноиндентирования UNHT (Ультрананотвердомер)
Модуль Наноиндентирования NHT2 (Ультрананотвердомер)
Модуль Микро-индентирования MHT (Микротвердомер)
Модуль Нано-скретч-тестирования NST (Микротвердомер)
Модуль Микро-скретч-тестирования MST (Микро-скретч-тестер)
Модуль Микро-комби-тестирования MCT (Индентирование и скретч тест в одном модуле)
Конфокальный микроскоп ConScan

 

 

ОБОРУДОВАНИЕ И АКСЕССУАРЫ

Динамические и расширенные режимы Wide Scan AFM

Динамическая сила (Прерывистый контакт):

  • Постоянная амплитуда,
  • Постоянная высота

Статическая сила:

  • Силовая модуляция,
  • Объемное сопротивление

Динамическая сила:

  • Фазовый контраст,
  • Магнитно силовой режим,
  •  Электростатический режим

Отклик по амплитуде следующих сигналов:

  • Процент свободной амплитуты
  • Сигнал ошибки амплитуды
  • Сигнал сдвига фаз
  • (10 шт) безконтактных AFM зондов

ЗАМЕЧАНИЕ:

— Опция динамического режима покупается ОДНОВРЕМЕННО при заказе с AFM

— Дополнительный специальные кантилеверы (для магнитного, электростатического и др режимов) можно приобрести отдельно
Контакные-AFM-зонды Тип CONTR-10, отражающее покрытие (10 шт./в упаковке)
Тип CONTR-20, отражающее покрытие (20 шт./в упаковке)
Тип CONTR-50, отражающее покрытие (50 шт./в упаковке)
Тип CONTR-W, отражающее покрытие (385 шт./Waf.)
 Бесконтактные-AFM-зонды Тип NCHR-10, отражающее покрытие (10 шт./в упаковке)
Тип NCHR-20, отражающее покрытие (20 шт./в упаковке)
Тип NCHR-50, отражающее покрытие (50 шт./в упаковке)
Тип NCHR-W, отражающее покрытие (385 шт./Waf.)
 Зонды магнитных сил Тип MFM кремниевые кантилеверы, твердосплавное покрытие (10 шт./упаковке)
Тип MFM кремниевые кантилеверы, твердосплавное покрытие (20 шт./упаковке)
Тип MFM кремниевые кантилеверы, твердосплавное покрытие (50 шт./упаковке)
Калибровочный образец для настройки AFM Для калибровки расстояния микроскопа по X-Y и опциональной настройки AFM изображения
Образец для калибровки вертикального движения «Три в одном», 20нм — 100нм — 500нм