Санкт-Петербург, ул. Ворошилова, 2   +7 (812) 326-10-56lab_equip@nnz.ru

Визуализация. Микроскопы

  • Атомно-силовой микроскоп Wide Scan AFM

    Атомно-силовой микроскоп WideScanAFM устанавливается на платформы Anton Paar TriTec и является идеальным компонентом системы для получения 3D изображений и топографического анализа поверхности после нано/микро индентирования и нано/микро скретч тестов, нанотрибологических исследований.
    • Максимальная область сканирования: 110 x 110 мкм
    • Максимальная высота по Z-диапазону : 22 мкм
    • Разрешение по Z : 0.34 нм
    • Разрешение по X и Y : 1.7 нм

    Подробнее
  • Конфокальный микроскоп (профилометр) ConScan

    Ахроматический конфокальный профилометр ConScan предназначен для получения трехмерного цифрового изображения отпечатка индентора после индентирования, царапины после скретч-теста или следа износа после трибологических измерений и может быть установлен в качестве дополнительного модуля на Открытой или Компактной платформе.
    • Поле сканирования: 130 мкм или 400 мкм
    • Рабочее расстояние 3.3 мм или 11 мм
    • Разрешение по Z 0.005 мкм или 0.012 мкм
    • Разрешение по X-Y 1.1 мкм или 1.3 мкм

    Подробнее
Страница 1 из 11
Продукт-менеджер направления: Трубицын Павел    +7(812)326-10-56 доб. 3506p.trubicin@nnz.ru