ENG
 Санкт-Петербург, ул. Ворошилова, 2   +7 (812) 326-10-56lab_equip@nnz.ru

Нано Скретч Тестер NST

Краткое описание

НАНО НАНО-СКРЕТЧ-ТЕСТЕР (NST) предназначены для наномеханических испытаний, изучения свойств поверхности тонких пленок и покрытий, толщиной менее 1000 нм, таких как адгезия, хрупкость, деформация, отслаивание и износостойкость путем испытания царапаньем, а также устойчивость и сопротивление к царапанию, коэффициент трения.
Максимальная нагрузка царапания до 1000 мН
Максимальная глубина царапания до 2000 мкм

Скачать буклет: pdf Заказать \ задать вопрос

Метод реализует контролируемое царапание алмазным индентором на выбранном участке образца/изделия при заданном режиме нагрузки и длине царапины. Наконечник индентора (обычно алмаз, сапфир, карбид вольфрама) перемещается по поверхности образца с постоянной, возрастающей или прогрессивной нагрузкой. При определенной критической нагрузке покрытие начнет трескаться, разрушаться и отслаиваться. Критические нагрузки очень точно регистрируются акустическим сенсором (MST и RST) закрепленном на кронштейне царапающего индентора, одновременно их можно визуально зафиксировать посредством оптического микроскопа.

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

Измерительный модуль NST, устанавливается на Компактную, Открытую или Настольную платформу, на которые можно совместно установить дополнительные измерительные модули в любом сочетании по желанию пользователя

Параметры вертикальной нагрузки Стандартный кантилевер (ST) Высокой нагрузки (HL) Высокого разрешения (HR)
 Максимальная вертикальная нагрузка (мН)  100  1000  10
 Разрешение по нагрузке (мкН)  1,5  15  0,15
 Скорость нагружения (Н/мин)  10  100  1
 Контактная нагрузка (мН)  10  100  1
Параметры глубины проникновения Точный диапазон Расширенный диапазон
 Максимальная глубина (мкм)  200  2000
 Разрешение по глубине (нм)  0,6  6
Параметры Силы трения (столика) Стандартного столика Высокого разрешения
 Максимальная сила трения  1000  200
 Разрешение  6 0,3
 Скоросто царапания  до 600 мм/мин

02 NST модуль

ОСОБЕННОСТИ ПРИБОРА

Информация о поведении образца одновременно снимается с датчиков:

Глубины проникновения по оси Y (мкм)
Силы трения (Н)
Перемещения по Х (скорость (мм/мин), длина царапания (мм))
Акустической эмиссии
Прилагаемой нагрузки (Н)

Царапина проводится алмазным индентором конической формы, что исключает погрешности, связанные с влиянием ориентации граней индентора, например, Берковича

  • Система активной обратной связи управления нагрузкой позволяет проводить царапание на неплоских поверхностях (сверла, линзы и др.)
  • Измерительное царапание с режимом предварительного сканирования для коррекции неровностей поверхности
  • Режим «Панорама» в цифровой форме «склеивает» кадры частей царапины друг с другом и синхронизирует с графиком скретч-теста
  • Режим «Мультифокус» — режим многократного фотографирования с различной глубиной резкости для получения изображение в резкости по всей глубине
  • Проведение классического измерения твёрдости с измерением геометрии отпечатка индентора

ТЕХНИЧЕСКОЕ ОПИСАНИЕ:

По этой ссылке Вы можете загрузить техническое описание на MHT — скачать в формате PDF

Руководство по выбору платформы для модулей Anton Paar TriTec — скачать в формате PDF

ДОПОЛНИТЕЛЬНЫЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ МОДУЛИ Anton Paar TriTec для Открытой или Компактной платформ:

Видеомикроскоп высокого разрешения с увеличением до 4000х (стандартная опция).
Модуль УльтраНаноиндентирования UNHT (Ультрананотвердомер)
Модуль Наноиндентирования NHT2 (Ультрананотвердомер)
Модуль Микро-индентирования MHT (Микротвердомер)
Модуль Микро-скретч-тестирования MST
Модуль Атомно-силовой микроскоп Wide ScanAFM
Модуль Конфокальный микроскоп ConScan

ОБОРУДОВАНИЕ И АКСЕССУАРЫ

Тиски крепления дисковых образцов

Тиски крепления дисковых образцов

  • Диаметр образца от 10 мм до 30 мм
Патронный держатель дисковых образцов

Патронный держатель дисковых образцов

  • Диаметр образца от 12 мм до 62 мм
Держатель для 4-х образцов Держатель для 4-х образцов

Позволяет проводить индентирование нескольких образцов одновременно.

  • Диаметр образца от 10 мм до 25 мм
  • Позволяет выравнивать образцы по высоте
  • Размеры (Д x Ш x В) = 56 x 56 x 43 мм
Наклоняемый столик Наклоняемый столик

Наклоняемый столик по осям X-Y предназначен для использования в комплекте с UNHT для индентирования мягких материалов типа эластомеры, гели. Столик позволяет настраивать параллельность образца по горизонтали.

  • Ход столика по осям X-Y +/- 2°
  • Чувствительность 4 акрсекунд (20 микрорад)
  • Максимальная нагрузка 20Н
Модуль наблюдения In Situ Модуль наблюдения In Situ

(для OPX и CPX при наличии адаптера)

Предназначен для наблюдения в процессе индентирования или скретч-тестирования в точке контакта индентора с поверхностью для прозрачных образцов

  • Камера CCD высокого разрешения c прогрессивной разверткой (черно-белое изображение с разрешением 1280 x 1204 пиксел)
  • Тубус микроскопа с одним объективом на выбор (10x, 20x…)
  • Монохроматическая подсветка: длина волны λ = 627 nm
  • Ручные столики X & Y ( ход 6 x 6 мм)
  • Грубая и тонкая настройки фокусировки (и позиционирования по вертикали)
  • Интеграция с ПО для Индентирования и Скретч тестирования для платформ Anton Paar TriTec
Защитный акустический кожух Защитный акустический кожух

Кожух защищает прибор от внешних вибраций воздуха, громких звуков при проведение особо точных изменрений в нанодиапазоне (предназначен для Компактной CPX и Открытой платформ OPX)

Кожух включает:

  • Бетонное основание
  • Девять полимерных виброзащиных ножки (Sylomer®)
  • Размеры кожуха (д x ш x в) 1020 x 805 x 2380 мм
Humidity chamber 169 01 Климатическая камера

Компактная платформа CPX в климатической камере позволяет установить 2 измерительных модуля и Видеомикроскоп.

  • Рабочий объем: 540 литров
  • Диапазон температур:10 — 40 °C
  • Диапазон относительной влажности: 20 — 90 %
  • Скорости нагрева, охлаждения: −3 K/мин +10 K/мин
Вакуумная камера

Вакуумная камера

Компактная платформа CPX в вакуумной камере позволяет установить 2 измерительных модуля и Видеомикроскоп.

Первичный Вакуум

  • Предельный вакуум 10-2 мбар
  • Рабочий вакуум 10-1 мбар

Высокий вакуум

  • Предельный вакуум 10-6 мбар
  • Рабочий вакуум 10-4 мбар

СПЕЦИАЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ NST

Панорама Царапины

После проведения эксперимента образец автоматически перемещается под микроскоп и проходит съемка Панорамы царапины по всей длине с автоматической склейкой изображений. После чего в окне программное обеспечения появляется изображение царапины, синхронизированное по длине с графиками, что позволяет визуально проводить анализ критических нагрузок по изображению и графикам одновременно с возможностью увеличения фрагмента изображения без потери синхронизации с графиками.

NST_Software_Panorama

 

 

 

 

 

 

 

Изображение царапины, синхронизованное в окне с графиками эксперимента

 

Мультифокусная съемка царапины

Режим «мультифокус» реализует многократную съемку одной и той же части царапины с различной глубиной резкости и программным наложением их друг на друга для получения финального четкого изображения по всей глубине царапины.

NST_Software_Multifocus

 

 

 

 

 

 

 

 

ПУБЛИКАЦИИ И ПРИМЕРЫ ПРИМЕНЕНИЯ

  • Новый Нано Скретч тестер (NST) для исследования ультра тонких пленок – скачать PDF
  • Исследования в Микроэлектронике – Нано Скретч тестер (NST) для исследования покрытий препятствующих слипанию поверхностией — скачать PDF
  • Исследование полимеров – Контроль качества покрытия мини дисков  при помощи Нано Скретч Тестера и Трибометра — скачать PDF
  • Применение в Автомобильной промышлености — скачать PDF
    1. Упруго пластические свойства полимерных покрытий
    2. Стойкость к царапанию хромированных элементов автомобиля
    3. Адгезия лакокрасочного покрытия
  • Применение в биологии и медицине — скачать PDF
    1. Микро механические свойства покрытия фосфата кальция на титановом протезе
    2. Адгезия покрытия на контактных линзах
    3. Механические свойства твердых тканей зуба
    4. Сопротивление царапанию артериальных имплантатов
  • Влияние радиуса индентора при исследовании стойкости к царапанию прозрачных автомобильных лаков — скачать PDF

 

ВИДЕО

  • Наблюдение In-Situ за нано скретч тестированием покрытия из алмазоподобного углерода (DLC) — смотреть видео
  • Наблюдение In-Situ за нано скретч тестированием поверхности состаренной стали DurNiCo — смотреть видео
  • Наблюдение In-Situ за нано скретч тестированием поверхности кремния — смотреть видео

 

Похожее оборудование
Продукт-менеджер направления: Трубицын Павел    +7 495 7828011 доб. 3506 p.trubicin@nnz.ru