ENG
 Санкт-Петербург, ул. Ворошилова, 2   +7 (812) 326-10-56lab_equip@nnz.ru

Сканирующая электронная микроскопия 2009

в рубрики: Новости

В период с 01 по 03 июня 2009 года компания Ниеншанц приняла участие в симпозиуме «Сканирующая электронная микроскопия 2009» (SEM’09), прошедшем в г. Черноголовка, Московской области. Ссылка на сайт:http://purple.ipmt-hpm.ac.ru/sem/.Симпозиум был посвящён вопросам развития и применения методов сканирующей микроскопии (электронной и зондовой) и аналитических методов исследования в физике твердого тела, материаловедении, нанотехнологии, химии, биологии, медицине.

Специалисты отдела лабораторного оборудования представили устный доклад, стенд с печатными рекламными материалами и электронными презентациями по оборудованию для наномеханических испытаний производства компании CSM Instruments и рентгеновской томографии компании Skyscan, к том числе томографические модули для электронных микроскопов.