4–7 ИЮНЯ 2013 Компания Ниеншанц-Сайнтифик будет принимать участие в
VI-й ШКОЛЕ «МЕТРОЛОГИЯ И СТАНДАРТИЗАЦИЯ
В НАНОТЕХНОЛОГИЯХ И НАНОИНДУСТРИИ»
проводимой Метрологическим Центром РОСНАНО на базе Уральского Федерального Университета. В рамках школы будет представлен доклад
«СООТВЕТСТВИЕ ПРИБОРОВ НАНО- И МИКРО-ИНДЕНТИРОВАНИЯ КОМПАНИИ CSM-INSTRUMENTS СТАНДАРТАМ
ГОСТ Р 8.748-2011 И ISO 14577».
Кром этого на стенде нашей компании будут представлены:
Настольный нано-твердомер TTX- NHT2
Компактный Микро-томограф Bruker MicroCT Sky Scan 1174.
Приглашаем всех желающих посетить наш стенд, на котором можно получить консультации по методикам измерений и применению представленного оборудования, а также другим приборам, предлагаемым нашей компанией.