Визуализация. Микроскопы
- Подробнее
Атомно-силовой микроскоп Wide Scan AFM
Атомно-силовой микроскоп WideScanAFM устанавливается на платформы Anton Paar TriTec и является идеальным компонентом системы для получения 3D изображений и топографического анализа поверхности после нано/микро индентирования и нано/микро скретч тестов, нанотрибологических исследований.
• Максимальная область сканирования: 110 x 110 мкм
• Максимальная высота по Z-диапазону : 22 мкм
• Разрешение по Z : 0.34 нм
• Разрешение по X и Y : 1.7 нм - Подробнее
Конфокальный микроскоп (профилометр) ConScan
Ахроматический конфокальный профилометр ConScan предназначен для получения трехмерного цифрового изображения отпечатка индентора после индентирования, царапины после скретч-теста или следа износа после трибологических измерений и может быть установлен в качестве дополнительного модуля на Открытой или Компактной платформе.
• Поле сканирования: 130 мкм или 400 мкм
• Рабочее расстояние 3.3 мм или 11 мм
• Разрешение по Z 0.005 мкм или 0.012 мкм
• Разрешение по X-Y 1.1 мкм или 1.3 мкм