Визуализация. Микроскопы

• 

  Атомно-силовой микроскоп Wide Scan AFM

  Атомно-силовой микроскоп WideScanAFM устанавливается на платформы Anton Paar TriTec и является идеальным компонентом системы для получения 3D изображений и топографического анализа поверхности после нано/микро индентирования и нано/микро скретч тестов, нанотрибологических исследований.
  • Максимальная область сканирования: 110 x 110 мкм
  • Максимальная высота по Z-диапазону : 22 мкм
  • Разрешение по Z : 0.34 нм
  • Разрешение по X и Y : 1.7 нм

  Подробнее
• 

  Конфокальный микроскоп (профилометр) ConScan

  Ахроматический конфокальный профилометр ConScan предназначен для получения трехмерного цифрового изображения отпечатка индентора после индентирования, царапины после скретч-теста или следа износа после трибологических измерений и может быть установлен в качестве дополнительного модуля на Открытой или Компактной платформе.
  • Поле сканирования: 130 мкм или 400 мкм
  • Рабочее расстояние 3.3 мм или 11 мм
  • Разрешение по Z 0.005 мкм или 0.012 мкм
  • Разрешение по X-Y 1.1 мкм или 1.3 мкм

  Подробнее