Новости
-
Стратегическое партнерство
Ректор Казанского Национального Исследовательского Технологического Университета Дьяконов Герман Сергеевич и генеральный директор ООО «Ниеншанц-Cайнтифик» Овсянников Александр Николаевич подписали 4 мая
-
5-ая Школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии»
C 4 по 7июня 2012 года в городе Черноголовка Московской области прошла 5-ая Школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и
-
Семинар совместно с Московским энергетическим институтом
Компания «Ниеншанц» совместно с Московским энергетическим институтом (ФГБОУ ВПО «НИУ «МЭИ») провели 23 мая 2012г. практический семинар, посвященный современным методам
-
Очередные курсы повышения квалификации пользователей Skyscan
С 24 по 26 апреля 2012 года компания «Ниеншанц» провела очередные курсы повышения квалификации пользователей* Skyscan, в рамках которых представитель
-
Конференция пользователей Bruker microCT 3-5 апреля 2012
Компания «Ниеншанц» представила доклад на ежегодной конференции пользователей Bruker microCT, проходившей с 3 по 5 апреля в Брюсселе (Бельгия), итоги
-
Заявление о слиянии Skyscan n.v. и Bruker Corporation
2 апреля 2012 Bruker Corporation объявила о приобретении 100% акций SkyScan n.v., сразу после приобретения, компания SkyScan n.v. была переименована в
-
Экспо Контроль 2012
Рады сообщить Вам, что НИЕНШАНЦ с 17 по 19 апреля примет участие в выставке «ЭКСПО КОНТРОЛЬ -2012». Выставка состоится в
-
Газета компании CSM Instruments
В конце 2011 года наш давний партнер, компания CSM Instruments, мировой лидер в производстве приборов для исследований механических свойств поверхности
-
21 января 2012г. компания ЗАО «Ниеншанц» отметила свой очередной День Рождения!
Уважаемые партнеры! Дорогие друзья! 21 января 2012г. компания ЗАО «Ниеншанц» отметила свой очередной День Рождения! Мы можем с гордостью оглянуться
-
«Интерпластика — 2012» с 24 по 27 января 2012г. в Москве
Приглашаем всех желающих посетить наш стенд Адрес: Краснопресненская наб, д. 14 ВЦ «Экспоцентр» Номер стенда «Ниеншанц»: 8.3В05
-
Практическая демонстрация возможностей метода ренгеновской микротомографии.
Компьютерная томография (КТ) является одним из наиболее универсальных и представительных методов для изучения объемного строения практически любых материалов и объектов.
-
«Деформация и Разрушение Материалов и Наноматериалов»
С 25 по 28 октября 2011 г. в Москве состоялась IV Международная конференция «Деформация и Разрушение Материалов и Наноматериалов».