С 31.10.2012 по 03.11.2012 компания Ниеншанц-Сайнтифик приняла участие в форуме «Open Innovations Expo 2012», который был организован ведущими российскими институтами развития и правительством Москвы при поддержке Правительства Российской Федерации. Мероприятие объединило представителей бизнеса, власти и науки для обмена опытом и анализа основных мировых тенденций в области инноваций.
В рамках форума проводилась выставка, на которой компанией Ниеншанц-Сайнтифик было представлено оборудование:
CSM Instruments — настольный нанотвердомер NHT2 — TTX для определения твердости тонких пленок толщиной от 100 нм и материалов, модуля упругости и его составляющих – скрытой и рассеянной энергии деформации методом инструментального индентирования.
SkyScan — компьютерная микротомография Bruker micro-CT неразрушающий метод визуализации трехмерной внутренней микроструктуры объектов с использованием рентгеновского излучения. Метод аналогичен медицинской томографии, но обладает значительно более высоким пространственным разрешением. Сканирование визуализирует всю внутреннюю трехмерную структуру объекта и полностью сохраняет образец для других видов исследований.
Оборудование вызвало огромный интерес у посетителей выставки. Все желающие могли увидеть оборудование и получить компетентную консультацию.