Компания Ниеншанц примет участие в
3-ей Международной специализированной выставке
«НАНОТЕХНОЛОГИИ XXI – 2010»
в рамках 11-го Mеждународного форума
«Высокие технологии XXI века»
19-22 апреля 2010 г., Москва, ЦВК «ЭКСПОЦЕНТР»
Ниеншанц представит оборудование компаний CSM Instruments и SkyScan.
CSM Instruments – Оборудование для инструментального индентирования, скретч-тестирования (измерительного царапания) в микро и нанодиапазонах усилий, позволяющее определить твердость, модуль упругости, скрытую и рассеянную энергию деформации и стойкость к царапанию наноразмерных пленок и покрытий.
SkyScan – Рентгеновские томографы — оборудование для трехмерной визуализации внутренней структуры объектов с разрешением до 150 нм (лабораторная компьютерная микро и нанотомография)
Приглашаем Вас посетить стенд нашей компании:
19-22 апреля 2010 г., Москва, ЦВК «ЭКСПОЦЕНТР», павильон 7, зал 4, стенд № 74С11