ENG
 Санкт-Петербург, ул. Ворошилова, 2   +7 (812) 326-10-56analitika@nnz.ru

«НАНОТЕХНОЛОГИИ XXI – 2010»

в рубрики: Новости

Компания Ниеншанц примет участие в
3-ей Международной специализированной выставке
«НАНОТЕХНОЛОГИИ XXI – 2010»
в рамках 11-го Mеждународного форума
«Высокие технологии XXI века»

19-22 апреля 2010 г., Москва, ЦВК «ЭКСПОЦЕНТР»

Ниеншанц представит оборудование компаний CSM Instruments и SkyScan.
CSM Instruments – Оборудование для инструментального индентирования, скретч-тестирования (измерительного царапания) в микро и нанодиапазонах усилий, позволяющее определить твердость, модуль упругости, скрытую и рассеянную энергию деформации и стойкость к царапанию наноразмерных пленок и покрытий.
SkyScan – Рентгеновские томографы — оборудование для трехмерной визуализации внутренней структуры объектов с разрешением до 150 нм (лабораторная компьютерная микро и нанотомография)

Приглашаем Вас посетить стенд нашей компании:

19-22 апреля 2010 г., Москва, ЦВК «ЭКСПОЦЕНТР», павильон 7, зал 4, стенд № 74С11