ENG
 Санкт-Петербург, ул. Ворошилова, 2   +7 (812) 326-10-56lab_equip@nnz.ru

Нанотвердомер NHT2 – Первый сертифицированный Нанотвердомер в России

в рубрики: Новости

15 января 2014 года Нанотвердомер NHT2 (прибор инструментального наноиндентирования) производства компании CSM Instruments SA, Швейцария, утвержден в качестве типа средств измерений Федеральным агентством по Техническому Регулированию и Метрологии. Регистрационный номер свидетельства об утверждении типа в Государственном Реестре Средств Измерений 56136-14.

Нанотвердомер NHT2 полностью соответствует принятому в 2013 году ГОСТ Р 8.748-2011 (ISO 14577-1:2002) «Металлы и сплавы. Измерение твердости и других характеристик при инструментальном индентировании».

Нанотвердомер NHT2 – прибор для испытаний покрытий и приповерхностного слоя материалов для определения твердости, модуля упругости в зависимости от глубины, ползучести материалов, трещиностойкости, скрытой и рассеянной энергии деформации.
Главным отличием прибора NHT2 компании CSM Instruments является прямое вертикальное индентирование (методика описана в ГОСТ Р 8.748-2011), в отличие от приборов, реализованных на основе Сканирующих Зондовых Микроскопов (AFM), на которых индентор находится на гибком поперечном кантилевере, что значительно ограничивает возможности прибора.

Нанотвердомер производит испытания покрытий толщиной от 20 нм и более, локальное измерение механических свойств фазового состава и т.д.

Прибор выпускается в следующих исполнениях:

  • NHT2 TTX – настольная система включающая модуль Наноиндентирования NHT2 и Видеомикроскоп или атомно-силовой микроскоп WideScan AFM
  •  NHT2–CPX – система на компактной платформе позволяет добавить ОДИН дополнительный измерительный модуль, например, Нано- или Микро-скретч-тестер (NST или MST), Микро-комби Тестер (MCT – Микро-скретч и индентирование) или дополнительный модуль 3D визуализации, атомно-силовой микроскоп WideScan AFM или конфокальный микроскоп ConScan)
  • NHT2 – OPX – система на открытой платформе (позволяет добавить ДВА любых дополнительных измерительный модуля, например, Нано- или Микро-скретч-тестер (NST или MST), Микро-комби Тестер (MCT – Микро-скретч и индентирование) или дополнительный модуль 3D визуализации, атомно-силовой микроскоп WideScan AFM или конфокальный микроскоп ConScan)