ENG
 Санкт-Петербург, ул. Ворошилова, 2   +7 (812) 326-10-56analitika@nnz.ru

Новости компании

  • Новый рентгеновский мультирежимный нанотомограф SkyScan 2214

    Новый рентгеновский мультирежимный нанотомограф SkyScan 2214

    12 июня 2018 г. компания Bruker официально анонсировала начало производства нового рентгеновского нанотомографа SkyScan 2214 Новый рентгеновский нанотомограф SkyScan 2214

  • Визит на производственную площадку ZAMAK MERCATOR – европейского производителя оборудования для переработки и исследования полимеров

    Визит на производственную площадку ZAMAK MERCATOR – европейского производителя оборудования для переработки и исследования полимеров

    4-5 апреля состоялся визит представителей компании «Аналитика и Приборы» на производственную площадку ZAMAK Mercato в Польше

  • Пятая всероссийская конференция  «Практическая микротомография». Москва, 7–9 ноября 2018

    Пятая всероссийская конференция «Практическая микротомография». Москва, 7–9 ноября 2018

    Компании «Ниеншанц Сайнтифик» и «Аналитика и приборы» начинают подготовку к организации Всероссийской Научной Конференции «Практическая микротомография»

  • Участие компании «Ниеншанц-Сайнтифик» в выставке «Композит — Экспо 2018»

    Участие компании «Ниеншанц-Сайнтифик» в выставке «Композит — Экспо 2018»

    Компания «Ниеншанц-Сайнтифик» приняла участие в специализированной выставке композитных материалов

  • Участие в выставке композитных материалов, технологий и оборудования «Композит – Экспо 2018»

    Участие в выставке композитных материалов, технологий и оборудования «Композит – Экспо 2018»

    Компания Ниеншанц Сайнтифик принимает участие в самой крупной в России специализированной выставке композитных материалов, технологий и оборудования «Композит – Экспо 2018»

  • С Новым 2018 годом и Рождеством, дорогие коллеги, партнеры, друзья!

    С Новым 2018 годом и Рождеством, дорогие коллеги, партнеры, друзья!

    Мы надеемся, что наши деловые отношения в новом году только укрепятся,
    принеся сказочно высокую прибыль обеим сторонам.