11 февраля в Новосибирском государственном университете на базе НОК «Наносистемы и современные материалы» сотрудники нашего отдела провели семинар, на котором были рассмотрены уникальные возможности оборудования фирмы CSM Instruments для исследования физических свойств поверхности материалов в нанодиапазоне, а также была представлена обзорная презентация по методу рентгеновской микротомографии и томографам компании Skyscan. На семинаре мы также представили линейки оборудования для пробоподготовки производства компании Buehler.
После проведения семинара был проведён круглый стол, в рамках которого все желающие смогли получить консультации по возможности применения оборудования представляемого нашей компанией для решения конкретных задач.