ENG
 Санкт-Петербург, ул. Ворошилова, 2   +7 (812) 326-10-56lab_equip@nnz.ru

Приглашаем 25 октября на семинар в Ставрополе.

в рубрики: Новости

ДАТА И ВРЕМЯ проведения: 25 октября 2010 года, 10:30
 

МЕСТО проведения:  Северо-Кавказский Государственный Технический Университет, НПЦ «Нанотехнологии»
 

В РАМКАХ СЕМИНАРА ЗАО «НИЕНШАНЦ» ОРГАНИЗУЕТ:

  • Доклады по новейшим методикам исследования поверхности и структуры материалов с примерами практического применения оборудования;
  • Раздачу каталогов и сувениров для каждого участника семинара;
  • Кофе-паузы;
  • Круглый стол.

В рамках семинара пройдет презентация возможностей оборудования следующих производителей: CSM Instruments (Швейцария), SkyScan (Бельгия) и Buehler (Германия).
 

 

CSM-Instuments, оборудование для исследования и прецизионных измерений механических и трибологических свойств на субмикронном и нанометровом уровнях, для оценки твердости, модуля Юнга, упругого восстановления, адгезионной прочности и износостойкости тонких пленок, покрытий в т.ч. многослойных и объемных материалов:

  • Твердомеры – ультранано, нано и микродиапазон по нагрузке, инструментальное индентирование – определение твердости и пр. по глубине проникновения индентора и прилагаемой нагрузке. Твердомеры для индентирования в горячих камерах. Специальные камеры для проведения индентирования в вакууме, инертных газах, контролируемой температуре и влажности;
    — Определение: твердость, модуль упругости, скрытая и рассеянная энергия деформации, эластичность, энергия разрушения (трещиностойкость), характер текучести, вид деформации;
  • Скретч-тестеры – нано, микро и макродиапазон по нагрузке, измерительное царапание. Специальные камеры для проведения скретч-тестирования в вакууме, инертных газах, контролируемой температуре и влажности;
    — Определение: адгезия покрытий, стойкость к царапанию, износостойкость, коэффициент трения;
  • Трибометры – нано и микродиапазон по нагрузке. Вращательное и линейное движения. Трибометры вакуумные, высокого вакуума и высокотемпературные;
    — Определение: коэффициент трения, степень износа, наработка на износ, фрикционные свойства смазок;
  • Приборы для измерения толщин покрытий и степени износа методом шарового истирания;
  • Модули атомно-силовой, конфокальной и оптической микроскопии для визуализации процесса исследования могут быть дополнительно установлены на платформы;
  • Отдельные приборы или модульные решения на платформах.

SkyScan, лабораторные рентгеновские томографы для неразрушающего исследования, визуализации и трёхмерного восстановления пространственной структуры объектов c измерением морфометрических плоскостных и пространственных параметров:

  • Рентгеновские микротомографы для исследования внутренней структуры твёрдых образцов (конструкционных материалов, металлов и сплавов, геологических образцов и пр.) с разрешением в несколько микрон.
  • Рентгеновский нанотомограф для исследования пространственной архитектуры объектов со структурными элементами нанометрового диапазона (нанопористые мембраны, тонкоплёночные покрытия и пр.) с разрешением 150 — 200 нанометров.
  • Специализированный рентгеновский микротомографический модуль для использования в электронных микроскопах;
  • Температурный столик, столик для растяжения-сжатия и микропозиционный столик для установки внутри томографов.

Buehler, оборудование для пробоподготовки образцов к микроструктурному анализу:

  • Абразивные и прецизионные отрезные станки, ручные и автоматические;
  • Прессы для горячей запрессовки и холодной (вакуумной) заливки;
  • Станки шлифовально-полировальные, ручные и автоматические;
  • Электролитическая полировка и травление;

TesT, физико-механические испытания материалов:

  • Испытательные машины для механических испытаний: растяжение, сжатие, изгиб; температурные испытания;
  • Испытательные машины для испытания на усталостную прочность, в том числе и температурные;
  • Испытательные машины для испытаний на кручение, кручение с изгибом;
  • Копры маятниковые (определение ударной вязкости по Шарпи, Изоду);
  • Твердомеры микро- и макротвердомеры по Виккерсу, Роквеллу, Кнупу;
  • Универсальное программное обеспечение для испытаний материалов, деталей и проведения функциональных испытаний.

Лабораторное оборудование для моделирования процессов переработки полимеров:

  • Лабораторные вальцы;
  • Гидравлические пресса с охлаждаемыми и нагреваемыми плитами;
  • Одношнековые и двухшнековые экструдеры с модульными цилиндрами;
  • Линии для проката, выдува однослойной и многослойной пленки и листов;
  • Измельчающие системы, грануляторы барабанные стренговые и бокорежущие;
  • Высокоскоростные смесители;
  • Фильтр тестер.

ПРОГРАММА СЕМИНАРА

 

10:30 Регистрация участников семинара. Раздача материалов.
 11:00 Вступительное слово
 11:05 CSM-Instuments, оборудование для исследования и прецизионных измерений механических и трибологических свойств на субмикронном и нанометровом уровнях, для оценки твердости, модуля Юнга, упругого восстановления, адгезионной прочности и износостойкости тонких пленок, покрытий в т.ч. многослойных и объемных материалов
 12:30 SkyScan, лабораторные рентгеновские томографы для неразрушающего исследования, визуализации и трёхмерного восстановления пространственной структуры объектов c измерением морфометрических плоскостных и пространственных параметров (И.Л. Краснов)
 13:00 Кофе-брейк
 13:30 Buehler, оборудование для пробоподготовки образцов к металлографии и петрографии (С.А. Долгих)
 13:45 TesT, физико-механические испытания материалов (С.А. Долгих)
 14:00 лабораторное оборудование для моделирования процессов переработки полимеров
 14:30 Круглый стол

 

 

При отправке заявки укажите, пожалуйста, следующую информацию: название учреждения, Ф.И.О., должность, контактный телефон, количество человек, интересующие темы.

Интересующие темы:
1. Твердомеры – ультранано, нано и микродиапазон по нагрузке;
2. Скретч-тестеры – нано, микро и макродиапазон;
3. Трибометры – нано и микродиапазон;
4. Приборы для измерения толщин покрытий и степени износа;
5. Рентгеновские микротомографы;
6. Рентгеновские микротомографы геологические;
7. Рентгеновский нанотомограф;
8. Пробоподготовка к металлографии;
9. Пробоподготовка к петрографии.