Семинар для ВСЕХ желающих 5 мая 2010 года

Компания ЗАО «Ниеншанц», основанная в 1991 году, специализирующаяся на подборе, продаже и установке научно-исследовательского оборудования, совместно с CSM Instruments (Швейцария), SkyScan (Бельгия) и Buehler (Германия), выражает Вам свое уважение и приглашает принять участие в научно-практическом семинаре:

«Современное оборудование для исследования поверхности и структуры материалов в ультранано-, нано-, микро- и макро- диапазонах»

Дата и время проведения: 5 мая 2010 года, 10:30

Место проведения: Сибирский Федеральный Университет, пр. Свободный, 79, ЦКП, 3-й корпус, цокольный этаж, конференц-зал.

В РАМКАХ СЕМИНАРА ЗАО «НИЕНШАНЦ» ОРГАНИЗУЕТ:

• Доклады по новейшим методикам исследования поверхности и структуры материалов с примерами практического применения оборудования;

• Раздачу каталогов и сувениров для каждого участника семинара;

• Кофе-паузы;

• Круглый стол.

В рамках семинара пройдет презентация возможностей оборудования следующих производителей: CSM Instruments (Швейцария), SkyScan (Бельгия) и Buehler (Германия).

CSM-Instuments, оборудование для исследования и прецизионных измерений механических и трибологических свойств на субмикронном и нанометровом уровнях, для оценки твердости, модуля Юнга, упругого восстановления, адгезионной прочности и износостойкости тонких пленок, покрытий в т.ч. многослойных и объемных материалов:

• Твердомеры – ультранано, нано и микродиапазон по нагрузке, инструментальное индентирование – определение твердости и пр. по глубине проникновения индентора и прилагаемой нагрузке. Твердомеры для индентирования в горячих камерах. Специальные камеры для проведения индентирования в вакууме, инертных газах, контролируемой температуре и влажности;

— Определение: твердость, модуль упругости, скрытая и рассеянная энергия деформации, эластичность, энергия разрушения (трещиностойкость), характер текучести, вид деформации;

• Скретч-тестеры – нано, микро и макродиапазон по нагрузке, измерительное царапание. Специальные камеры для проведения скретч-тестирования в вакууме, инертных газах, контролируемой температуре и влажности;

— Определение: адгезия покрытий, стойкость к царапанию, износостойкость, коэффициент трения;

• Трибометры – нано и микродиапазон по нагрузке. Вращательное и линейное движения. Трибометры вакуумные, высокого вакуума и высокотемпературные;

— Определение: коэффициент трения, степень износа, наработка на износ, фрикционные свойства смазок;

• Приборы для измерения толщин покрытий и степени износа методом шарового истирания;

• Модули атомно-силовой, конфокальной и оптической микроскопии для визуализации процесса исследования могут быть дополнительно установлены на платформы;

• Отдельные приборы или модульные решения на платформах.

SkyScan, лабораторные рентгеновские томографы для неразрушающего исследования, визуализации и трёхмерного восстановления пространственной структуры объектов c измерением морфометрических плоскостных и пространственных параметров:

• Рентгеновские микротомографы для исследования внутренней структуры твёрдых образцов (конструкционных материалов, металлов и сплавов, геологических образцов и пр.) с разрешением в несколько микрон.

• Рентгеновский нанотомограф для исследования пространственной архитектуры объектов со структурными элементами нанометрового диапазона (нанопористые мембраны, тонкоплёночные покрытия и пр.) с разрешением 150 — 200 нанометров.

• Специализированный рентгеновский микротомографический модуль для использования в электронных микроскопах;

• Температурный столик, столик для растяжения-сжатия и микропозиционный столик для установки внутри томографов.

Buehler, оборудование для пробоподготовки образцов к микроструктурному анализу:

• Абразивные и прецизионные отрезные станки, ручные и автоматические;

• Прессы для горячей запрессовки и холодной (вакуумной) заливки;

• Станки шлифовально-полировальные, ручные и автоматические;

• Электролитическая полировка и травление;

ПРОГРАММА СЕМИНАРА

Интересующие темы:
1.Твердомеры – ультранано, нано и микродиапазон по нагрузке;
2.Скретч-тестеры – нано, микро и макродиапазон;
3.Трибометры – нано и микродиапазон;
4.Приборы для измерения толщин покрытий и степени износа;
5.Рентгеновские микротомографы;
6.Рентгеновские микротомографы геологические;
7.Рентгеновский нанотомограф;
8.Пробоподготовка к металлографии;
9.Пробоподготовка к петрографии.