ENG
 Санкт-Петербург, ул. Ворошилова, 2   +7 (812) 326-10-56lab_equip@nnz.ru

Семинар для ВСЕХ желающих 5 мая 2010 года

в рубрики: Новости

Компания ЗАО «Ниеншанц», основанная в 1991 году, специализирующаяся на подборе, продаже и установке научно-исследовательского оборудования, совместно с CSM Instruments (Швейцария), SkyScan (Бельгия) и Buehler (Германия), выражает Вам свое уважение и приглашает принять участие в научно-практическом семинаре:

«Современное оборудование для исследования поверхности и структуры материалов в ультранано-, нано-, микро- и макро- диапазонах»

Дата и время проведения: 5 мая 2010 года, 10:30

Место проведения: Сибирский Федеральный Университет, пр. Свободный, 79, ЦКП, 3-й корпус, цокольный этаж, конференц-зал.

В РАМКАХ СЕМИНАРА ЗАО «НИЕНШАНЦ» ОРГАНИЗУЕТ:

  • Доклады по новейшим методикам исследования поверхности и структуры материалов с примерами практического применения оборудования;
  • Раздачу каталогов и сувениров для каждого участника семинара;
  • Кофе-паузы;
  • Круглый стол.

В рамках семинара пройдет презентация возможностей оборудования следующих производителей: CSM Instruments (Швейцария), SkyScan (Бельгия) и Buehler (Германия).

 

CSM-Instuments, оборудование для исследования и прецизионных измерений механических и трибологических свойств на субмикронном и нанометровом уровнях, для оценки твердости, модуля Юнга, упругого восстановления, адгезионной прочности и износостойкости тонких пленок, покрытий в т.ч. многослойных и объемных материалов:

  • Твердомеры – ультранано, нано и микродиапазон по нагрузке, инструментальное индентирование – определение твердости и пр. по глубине проникновения индентора и прилагаемой нагрузке. Твердомеры для индентирования в горячих камерах. Специальные камеры для проведения индентирования в вакууме, инертных газах, контролируемой температуре и влажности;

— Определение: твердость, модуль упругости, скрытая и рассеянная энергия деформации, эластичность, энергия разрушения (трещиностойкость), характер текучести, вид деформации;

  • Скретч-тестеры – нано, микро и макродиапазон по нагрузке, измерительное царапание. Специальные камеры для проведения скретч-тестирования в вакууме, инертных газах, контролируемой температуре и влажности;

— Определение: адгезия покрытий, стойкость к царапанию, износостойкость, коэффициент трения;

  • Трибометры – нано и микродиапазон по нагрузке. Вращательное и линейное движения. Трибометры вакуумные, высокого вакуума и высокотемпературные;

— Определение: коэффициент трения, степень износа, наработка на износ, фрикционные свойства смазок;

  • Приборы для измерения толщин покрытий и степени износа методом шарового истирания;
  • Модули атомно-силовой, конфокальной и оптической микроскопии для визуализации процесса исследования могут быть дополнительно установлены на платформы;
  • Отдельные приборы или модульные решения на платформах.

SkyScan, лабораторные рентгеновские томографы для неразрушающего исследования, визуализации и трёхмерного восстановления пространственной структуры объектов c измерением морфометрических плоскостных и пространственных параметров:

  • Рентгеновские микротомографы для исследования внутренней структуры твёрдых образцов (конструкционных материалов, металлов и сплавов, геологических образцов и пр.) с разрешением в несколько микрон.
  • Рентгеновский нанотомограф для исследования пространственной архитектуры объектов со структурными элементами нанометрового диапазона (нанопористые мембраны, тонкоплёночные покрытия и пр.) с разрешением 150 — 200 нанометров.
  • Специализированный рентгеновский микротомографический модуль для использования в электронных микроскопах;
  • Температурный столик, столик для растяжения-сжатия и микропозиционный столик для установки внутри томографов.

Buehler, оборудование для пробоподготовки образцов к микроструктурному анализу:

  • Абразивные и прецизионные отрезные станки, ручные и автоматические;
  • Прессы для горячей запрессовки и холодной (вакуумной) заливки;
  • Станки шлифовально-полировальные, ручные и автоматические;
  • Электролитическая полировка и травление;

 

ПРОГРАММА СЕМИНАРА

 

10:30 Регистрация участников семинара. Раздача материалов.
11:00 Вступительное слово
11:05 CSM-Instuments, оборудование для исследования и прецизионных измерений механических и трибологических свойств на субмикронном и нанометровом уровнях, для оценки твердости, модуля Юнга, упругого восстановления, адгезионной прочности и износостойкости тонких пленок, покрытий в т.ч. многослойных и объемных материалов
11:50 Кофе-брейк
12:00 SkyScan, лабораторные рентгеновские томографы для неразрушающего исследования, визуализации и трёхмерного восстановления пространственной структуры объектов c измерением морфометрических плоскостных и пространственных параметров
12:30 Buehler, оборудование для пробоподготовки образцов к металлографии и петрографии
12:40 Круглый стол

 

Если вы приняли решение об участии в семинаре, пожалуйста,
вышлите заявку по электронной почте: dolgih@nnz.ru
тел: (812) 326-59-25, Долгих Станислав Александрович
При отправке заявки укажите, пожалуйста, следующую информацию: название учреждения, Ф.И.О., должность, контактный телефон, количество человек, интересующие темы.

Интересующие темы:
1.Твердомеры – ультранано, нано и микродиапазон по нагрузке;
2.Скретч-тестеры – нано, микро и макродиапазон;
3.Трибометры – нано и микродиапазон;
4.Приборы для измерения толщин покрытий и степени износа;
5.Рентгеновские микротомографы;
6.Рентгеновские микротомографы геологические;
7.Рентгеновский нанотомограф;
8.Пробоподготовка к металлографии;
9.Пробоподготовка к петрографии.

 

УЧАСТИЕ В СЕМИНАРЕ БЕСПЛАТНОЕ. БУДЕМ РАДЫ ВИДЕТЬ ВАС!