С 8 по 11 декабря 2009 г в Казани состоится 1-я специализированная выставка «Нанотехнологии. Казань-2009», компания Ниеншанц представит оборудование компаний CSM Instruments и SkyScan.
CSM Instruments – Оборудование для инструментального индентирования, скретч-тестирования (измерительного царапания) в микро и нанодиапазонах усилий, позволяющее определить твердость, модуль упругости, скрытую и рассеянную энергию деформации и стойкость к царапанию наноразмерных пленок и покрытий.
SkyScan – Рентгеновские томографы — оборудование для трехмерной визуализации внутренней структуры объектов с разрешением до 150 нм (лабораторная компьютерная микро и нанотомография)
В рамках выставки также состоится 10-я международная конференция “Нанотехнологии в промышленности” на которой мы представим доклад о новых возможностях исследования механических свойств поверхностей, покрытий и материалов в Нано и Микро диапазонах.
Приглашаем всех желающих посетить наш стенд № 1.215, расположенный в павильоне № 1 по адресу:
г. Казань, Оренбургский тракт, 8