Даты проведения: 24-27 октября 2011г.
Место проведения: г. Москва, ЦВК «Экспоцентр», Краснопресненская наб., 14
Стенд Ниеншанц: павильон 2, зал 4, стенд №24E18
Все желающие смогли получить квалифицированную консуцльтацию по оборудованию таких производителей как: CSM Instruments (Швейцария), SkyScan (Бельгия), Inel (Франция).
CSM-Instuments, оборудование для исследования и прецизионных измерений механических и трибологических свойств на субмикронном и нанометровом уровнях, для оценки твердости, модуля Юнга, упругого восстановления, адгезионной прочности и износостойкости тонких пленок, покрытий в т.ч. многослойных и объемных материалов:
- Твердомеры – ультранано, нано и микродиапазон по нагрузке, инструментальное индентирование – определение твердости и пр. по глубине проникновения индентора и прилагаемой нагрузке. Твердомеры для индентирования в горячих камерах. Специальные камеры для проведения индентирования в вакууме, инертных газах, контролируемой температуре и влажности;
— Определение: твердость, модуль упругости, скрытая и рассеянная энергия деформации, эластичность, энергия разрушения (трещиностойкость), характер текучести, вид деформации; - Скретч-тестеры – нано, микро и макродиапазон по нагрузке, измерительное царапание. Специальные камеры для проведения скретч-тестирования в вакууме, инертных газах, контролируемой температуре и влажности;
— Определение: адгезия покрытий, стойкость к царапанию, износостойкость, коэффициент трения; - Трибометры – нано и микродиапазон по нагрузке. Вращательное и линейное движения. Трибометры вакуумные, высокого вакуума и высокотемпературные;
— Определение: коэффициент трения, степень износа, наработка на износ, фрикционные свойства смазок; - Приборы для измерения толщин покрытий и степени износа методом шарового истирания;
- Модули атомно-силовой, конфокальной и оптической микроскопии для визуализации процесса исследования могут быть дополнительно установлены на платформы;
- Отдельные приборы или модульные решения на платформах.
SkyScan, лабораторные рентгеновские томографы для неразрушающего исследования, визуализации и трёхмерного восстановления пространственной структуры объектов c измерением морфометрических плоскостных и пространственных параметров:
- Рентгеновские микротомографы для исследования внутренней структуры твёрдых образцов (конструкционных материалов, металлов и сплавов, геологических образцов и пр.) с разрешением в несколько микрон.
- Рентгеновский нанотомограф для исследования пространственной архитектуры объектов со структурными элементами нанометрового диапазона (нанопористые мембраны, тонкоплёночные покрытия и пр.) с разрешением 150 — 200 нанометров.
- Специализированный рентгеновский микротомографический модуль для использования в электронных микроскопах;
- Специальная приставка для исследования IN-VIVO небольших лабораторных животных;
- Температурный столик, столик для растяжения-сжатия и микропозиционный столик для установки внутри томографов.
Inel, оборудование для рентгеновской дифрактометрии, анализа фаз, кристаллических решеток и пр.
- Исследование порошкообразных образцов в режиме просвечивания и отражения;
- Исследование цельных образцов в режиме отражения;
- Малоугловое рентгеновское рассеяние;
- Микродифракция;
- Рефлектометрия;
- Исследования при низких (-180 °C и выше) и высоких температурах (от 450 °C до 2700 °C), автоматический учёт температурного расширения;
- Исследования в заданных климатических условиях;
- Исследования под нагрузкой в приставке Scan omega.