С 29 июня по 4 июля 2009 г в Подмосковье состоялась «1-я Международная научная школа – Нано-2009. Наноматериалы и нанотехнологии в
В период с 01 по 03 июня 2009 года компания Ниеншанц приняла участие в симпозиуме «Сканирующая электронная микроскопия 2009» (SEM’09), прошедшем
Специалисты нашего отдела приняли участие во второй школе «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Пространственные характеристики наноматериалов и наноструктур». Школа