Новости

• 

  Сканирующая электронная микроскопия 2009

  9 июля, 2009

  В период с 01 по 03 июня 2009 года компания Ниеншанц приняла участие в симпозиуме «Сканирующая электронная микроскопия 2009» (SEM’09), прошедшем

  Читать новость
• 

  Наносертифика — 2009

  8 июля, 2009

  Специалисты нашего отдела приняли участие во второй школе «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Пространственные характеристики наноматериалов и наноструктур». Школа

  Читать новость