ENG
 Санкт-Петербург, ул. Ворошилова, 2   +7 (812) 326-10-56lab_equip@nnz.ru

Нанотвердомер NHT2

Краткое описание

НАНОТВЕРДОМЕР (NHT2) или модуль НаноИндентирования реализует метод измерительного или инструментального индентирования (измерение силы и глубины погружения при вдавливании индентора в материал согласно ГОСТ Р 8.748-2011) и позволяет получать такие характеристики, как твёрдость, модуль упругости, скрытую и рассеянную энергии деформации, динамический и статический модуль упругости, пластическую деформацию, вязкость разрушения (трещиностойкость).

Скачать буклет: pdf Заказать \ задать вопрос
Теги:

НАНОТВЕРДОМЕР (NHT2) или модуль НаноИндентирования реализует метод измерительного или инструментального индентирования (измерение силы и глубины погружения при вдавливании индентора в материал, измерительный модуль MHT реализует методику инструментального индентирования описанную в ГОСТ Р 8.748-2011) и позволяет получать такие характеристики, как твёрдость, модуль упругости, скрытую и рассеянную энергии деформации, динамический и статический модуль упругости, пластическую деформацию, вязкость разрушения (трещиностойкость). При этом анализу могут подвергаться самые различные материалы: твердые покрытия, однослойные и многослойные покрытия, плотные и мягкие материалы, полимерные пленки и многофазные сплавы.

С помощью Нанотвердомера производства Anton Paar TriTec можно тестировать следующие материалы: мягкие и вспененные полимеры (контактные линзы, резины), лакокрасочные покрытия, электронные компоненты и защитные покрытия на них, контактные площадки и проводники интегральных схем, а также компоненты, применяемых в аэрокосмической промышленности, например защитные или оптические покрытия.

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ:

Измерительный модуль NHT2, устанавливается на Компактную, Открытую или Настольную платформу, на которые можно совместно установить дополнительные измерительные модули в любом сочетании по желанию пользователя.

Параметр Точный диапозон Расширенный диапозон
 Максимальная нагрузка (мН)  300  500
 Разрешение по нагрузке (нН)  20 300
 Скорость нагружения (мН/мин)  до 5000  до 5000
 Максимальная глубина индентирования (мкм)  40 200
 Разрешение по глубине (нм)  0,01  0,06
 Время удержания нагрузки  не ограничено  не ограничено

ТЕХНИЧЕСКОЕ ОПИСАНИЕ:

По этой ссылке Вы можете загрузить техническое описание на NHT2скачать в формате PDF

Руководство по выбору платформы для модулей Anton Paar TriTec — скачать в формате PDF

ДОПОЛНИТЕЛЬНЫЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ МОДУЛИ Anton Paar TriTec для Открытой или Компактной платформ:

Видеомикроскоп высокого разрешения с увеличением до 4000х (стандартная опция).
Модуль УльтраНаноиндентирования UNHT (Ультрананотвердомер)
Модуль Микро-индентирования MHT (Микротвердомер)
Модуль Микро-скретч-тестирования MST
Модуль Нано-скретч-тестирования NST
Модуль Атомно-силовой микроскоп Wide ScanAFM
Модуль Конфокальный микроскоп ConScan

ОБОРУДОВАНИЕ И АКСЕССУАРЫ

NHT_Options_Disc vices

Тиски крепления дисковых образцов

  • Диаметр образца от 10 мм до 30 мм
NHT_Options_Spindle table

Патронный держатель дисковых образцов

  • Диаметр образца от 12 мм до 62 мм
NHT_Options_Multitable

Держатель для 4-х образцов

Позволяет проводить индентирование нескольких образцов одновременно.

  • Диаметр образца от 10 мм до 25 мм
  • Позволяет выравнивать образцы по высоте
  • Размеры (Д x Ш x В) = 56 x 56 x 43 мм
UNHT Tilt table

Наклоняемый столик

Наклоняемый столик по осям X-Y предназначен для использования в комплекте с UNHT для индентирования мягких материалов типа эластомеры, гели. Столик позволяет настраивать параллельность образца по горизонтали.

  • Ход столика по осям X-Y +/- 2°
  • Чувствительность 4 акрсекунд (20 микрорад)
  • Максимальная нагрузка 20Н
NHT_In Situ table

Модуль наблюдения In Situ

(для OPX (и CPX при наличии адаптера))

Предназначен для наблюдения в процессе индентирования или скретч-тестирования в точке контакта индентора с поверхностью для прозрачных образцов

  • Камера CCD высокого разрешения c прогрессивной разверткой (черно-белое изображение с разрешением 1280 x 1204 пиксел)
  • Тубус микроскопа с одним объективом на выбор (10x, 20x…)
  • Монохроматическая подсветка: длина волны λ = 627 nm
  • Ручные столики X & Y ( ход 6 x 6 мм)
  • Грубая и тонкая настройки фокусировки (и позиционирования по вертикали)
  • Интеграция с ПО для Индентирования и Скретч тестирования для платформ Anton Paar TriTec
NHT_Options_Acoustic enclosure O-CPX

Защитный акустический кожух

Кожух защищает прибор от внешних вибраций воздуха, громких звуков при проведение особо точных изменрений в нанодиапазоне (предназначен для Компактной CPX и Открытой платформ OPX)

Кожух включает:

  • Бетонное основание
  • Девять полимерных виброзащиных ножки (Sylomer®)
  • Размеры кожуха (д x ш x в) 1020 x 805 x 2380 мм
Humidity chamber 169 01

Климатическая камера

Компактная платформа CPX в климатической камере позволяет установить 2 измерительных модуля и Видеомикроскоп.

  • Рабочий объем: 540 литров
  • Диапазон температур:10 — 40 °C
  • Диапазон относительной влажности: 20 — 90 %
  • Скорости нагрева, охлаждения: −3 K/мин +10 K/мин
HVCPX 173 01

Вакуумная камера

Компактная платформа CPX в вакуумной камере позволяет установить 2 измерительных модуля и Видеомикроскоп.

Первичный Вакуум

  • Предельный вакуум 10-2 мбар
  • Рабочий вакуум 10-1 мбар

Высокий вакуум

  • Предельный вакуум 10-6 мбар
  • Рабочий вакуум 10-4 мбар

ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ ФУНКЦИИ NHT2

Многоциклический режим с увеличивающейся нагрузкой

За одно измерение режим Continuous MultiCycle (CMC) позволяет получить зависимость Твёрдости и Модуля Упругости (модуль Юнга) в зависимости от глубины проникновения индентора в материал и провести анализ результатов. (Стандартная функция).

Grafik_nagruzki NHT2

 График нагрузки и зависимости твердости и модуля упругости от глубины индентирования

 

Динамический механический анализ (Опция для UNHT и NHT2)

Динамический механический анализ при наложении синусоидального сигнала при увеличении нагрузки на индентор позволяет получить информацию о дополнительных механических свойствах вязко-упругой деформации. Этот метод нагружения позволяет получить значения Твердости, Модуля Упругости, и, главное Скрытой и Рассеянной энергии деформации (Storage and Loss modulus) как функции глубины индентирования — проникновения индентора в материал. (Опция заказывается дополнительно).

Grafik_nagruzki NHT2_

 График нагрузки и зависимости Скрытой и Рассеянной энергии деформации от глубины индентирования

 

 

ПУБЛИКАЦИИ И ПРИМЕРЫ ПРИМЕНЕНИЯ

  • Наотвердомер (NHT) исследование тонких пленок MoS2 — скачать PDF
  • Наноиндентирование сферическим индентором как инструмент исследования упруго-пластических свойств материала — скачать PDF
  • Наноиндентирование в микроэлектронике – примеры применения — скачать PDF
  • Измерение твердости в зависимости от глубины азотированной стали типа 316L — скачать PDF
  • Международные стандарты по Индентированию, Скретч-тесту и Трибологии — скачать PDF
  • Исследование трещиностойкости поверхности SiN методом множественного индентирования — скачать PDF
  • Исследование ползучести материалов при помощи  Микро или НаноИндентирования (MHT/NHT) — скачать PDF
  • Влияние шероховатости поверхности на результаты инструментального индентирования (измерения твердости и модуля упругости) —          скачать PDF
  • Исследование покрытий, полученных термическим напылением методами Инструментального индентирования и Скретч-тестированием: Часть I — скачать PDF
  • Наноиндентирование и Нано-скретч оксидных покрытий на тонкопленочных полимерных субстратах — скачать PDF
  • Исследование покрытий, полученных термическим напылением методами Инструментального индентирования и Скретч-тестированием: Часть II — скачать PDF
  •  Матричное индентирование – механические свойства цементов — скачать PDF

 

ВИДЕО

  • Система Наноиндентирования NHT2 с атомно силовым микроскопом WideScanAFM — смотреть
  • Замена индентора на системе Наноиндентирования NHT2 TTX — смотреть
  • Работа и примеры применения настольной системы NHT2 TTX — смотреть
Похожее оборудование
Продукт-менеджер направления: Трубицын Павел    +7 495 7828011 доб. 3506 p.trubicin@nnz.ru