Компания «Ниеншанц-Сайнтифик» выступила с докладом «Рентгеновская компьютерная микротомография для исследования сложнопостроенных,нетрадиционных коллекторов и детального анализа процессов, являющихся методами увеличения нефтеотдачи
10 апреля 2014 года компания «Ниеншанц-Сайнтифик» приняла участие в конференции «Полимерные композиционные материалы нового поколения для винтокрылой авиационной техники», организуемой
На ежегодном собрании дистрибьютеров, проходившем 24-25 марта 2014 года в Бельгии был анонсирован нанотомограф Skyscan2211 сменивший в линейке SkyScan2011. Это
15 января 2014 года Нанотвердомер NHT2 (прибор инструментального наноиндентирования) производства компании CSM Instruments SA, Швейцария, утвержден в качестве типа средств измерений
28-31 Января 2014 г компания «Ниеншанц-Сайнтифик» будет принимать участие в ежегодной выставке ИНТЕРПЛАСТИКА 2014, приводимой в Москве на территории ЦВК
Компания «Ниеншанц-Сайнтифик», как эксклюзивный представитель на территории России оборудования для испытания полимеров TesT, Noselab ATS , приборов для изучения свойств поверхностей
Гостеприимная Казань, радушно встретившая нас в стенах Казанского национального исследовательского технологического университета, дала старт новому отечественному сообществу ученых и исследователей.
Компания «Ниеншанц -Сайнтифик» выступит спонсором V Всероссийской Научной Конференции «ФИЗИКОХИМИЯ ПРОЦЕССОВ ПЕРЕРАБОТКИ ПОЛИМЕРОВ» которая состоится 16 — 19 сентября 2013 в г. Иваново
Компания «Ниеншанц-Сайнтифик» примет участие в 4-й Специализированной выставке «Пластик & Каучук 2013» которая будет проходить в городе Казань в рамках
20 июня 2013 года компания Ниеншанц-Сайнтифик приняла участие в VII международной научно-технической конференции «Инновационные технологии в производстве полимерных пленок», организованной
В период с 18-го по 20-е июня 2013 года, прошло очередное совещание дистрибьюторов компании CSM Instruments со всего мира. Целью
4–7 ИЮНЯ 2013 Компания Ниеншанц-Сайнтифик будет принимать участие в VI-й ШКОЛЕ «МЕТРОЛОГИЯ И СТАНДАРТИЗАЦИЯ В НАНОТЕХНОЛОГИЯХ И НАНОИНДУСТРИИ» проводимой Метрологическим